XRF光譜儀探測器         包含：
1. X射線探頭和前置放大器（前放）生產效率；
2. 數(shù)字脈沖處理器和多道分析器大大縮短；
3. 電源和PC接口平臺建設。

X-123X射線光譜儀探測器產(chǎn)品特性：
1. 緊湊的一體化設(shè)計高端化；
2. 易操作開拓創新；
3. 體積泄┙o。?.7 x 3.9 x 1英寸優勢與挑戰，7 x 10 x 2.5厘米）；
4. 低功耗（2.5W）解決方案；
5. 重量輕180克趨勢；
6. USB和RS232通訊支持；
7. 可封裝全系列的AMPTEK探測器上高質量。

X-123X射線光譜儀探測器應(yīng)用范圍：
1. X射線熒光譜儀一站式服務；
2. 執(zhí)行RoHS/WEEE標(biāo)準(zhǔn)檢測的儀器廣度和深度；
3. 流程控制；
4. 藝術(shù)和考古引領作用；
5. X-123產(chǎn)品演示加強宣傳。

探測器：
1. Si-Pin半導(dǎo)體X射線探頭；
2. 兩級熱電制冷用的舒心；
3. 面積：6-25mm2設計能力；
4. 厚度：300-500µm；
5. 多層準(zhǔn)直器深入開展。

典型性能參數(shù)：
1. 分辨率：在5.9keV能量出的半高全寬為145到230eV更為一致；
2. 適用能量范圍：1-40keV；
3. zui大計數(shù)率：可達每秒兩百萬計數(shù)技術的開發。
4. 實際的性能參數(shù)取決于不同的探測器和配置研究與應用，可以為不同應(yīng)用進行優(yōu)化。